●「すずウィスカ研究の国際動向とわが国の取り組み」

すずウィスカは、電子・電気機器に深刻な故障を引き起こした深刻な問題です。2006年に開始されたRoHS規制によって実装の鉛フリー化が義務付けられ、世界的にすずウィスカ抑制技術の開発が進められています。本年4月24・25日の2日間にわたって日本で開催される「第2回 国際すずウィスカ シンポジウム」では、各国における最先端技術、並びにわが国における大学、JAXA、JEITA、企業の取り組みが紹介されます。日本のすずウィスカ研究における権威者であり、今回の国際会議の日本側代表である大阪大学 菅沼教授より、すずウィスカ研究の最新動向と、わが国における今後の取り組みについてお話しいただきます。

●「すずウィスカの評価・解析技術と事例紹介」

すずウィスカの発生メカニズムを明らかにし、抑制技術を研究・開発するためには、発生環境や加速条件を検出する信頼性試験技術の開発と、その性状や結晶構造の解析が不可欠となります。ウィスカは直径1ミクロン程度、長さ数〜数百ミクロンの微細な針状成長物で、成長速度も様々であり、その観察や結晶構造の解析には困難が伴う。これまでに内部応力型、外部応力型、はんだ、溶接など、様々なウィスカの存在が明らかになっていますが、これらの評価・解析技術について、豊富な事例とともにご紹介いたします。

●「HALT後進国　日本への警鐘」

機器に内在する弱点を短時間で抽出することを目的として1980年代に米国で提唱され、全世界に普及しているHALT試験。この考え方に基づき、急勾配（＞60℃／分）で広範な温度（−100℃〜＋200℃）変化と6自由度ランダム振動を電子機器に与え、信頼性の向上を実現する画期的な試験方法と世界及び日本における普及状況を紹介します。経営・販売戦略の視点からとらえたHALT試験の利用例を踏まえ、日本の製造業を取り巻くHALT試験需要の現状をご紹介いたします。

●「製品安全の視点による信頼性評価技術と事例紹介」

2007年5月の改正消費生活用製品安全法の施行により、重大製品事故の報告が義務付けられました。これに伴い、長期間使用される部品や製品の経年劣化や絶縁劣化に起因した事故の信頼性評価が急務になっています。特に近年、機器を構成する材料や部品、モジュールなどの素材の信頼性を確認する加速寿命試験の重要性が高まっており、環境試験下においてこれらの熱劣化・絶縁劣化メカニズムを評価する試験法（槽内連続測定法）の有効性について、具体的な評価事例に基づいてご紹介いたします。

楠本化成（株）　エタック事業部　『実装・信頼性フォーラム 2008』事務局
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