エタックは、2005年2月1日より、半導体・電子部品・実装品などの不具合原因を究明し、その改善策を提案する新しいサービス、『分析・解析サービス（信頼性クリニック）』を開始しました。

　このサービスは、品質信頼性評価のアウトソーシングサービスである「エタック信頼性試験・分析 受託サービス」の一環であり、不具合原因を究明するため、非破壊観察だけでなく、開封・研磨工程を経て、FIB、EBSPなど、各種解析機器による分析作業を承るものです。

　また、分析・解析結果に基づいた改善策のご提案、技術コンサルティングなども承りますので、ぜひご利用ください。

＜主な分析・解析機器＞
・超音波探傷映像装置（SAT）
・マイクロフォーカスX線CTシステム検査装置
・走査型電子顕微鏡（SEM）
・透過型電子顕微鏡（TEM）
・集束イオンビーム加工観察装置（FIB）
・高分解能走査電子顕微鏡（EBSP）
・ガスクロマトグラフィ（GC）
・液クロマトグラフィ
・ゲルパーミッションクロマトグラフィ（GPC）
・核磁気共鳴分析装置（NMR）　他

＜主な対応試験所＞
・IECQ独立試験所　草加試験センター

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