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エタックは、2005年2月10日より、各種信頼性評価業務の効率化・省力化を促進する槽内連続測定システムのニューモデル3種の販売を開始しました。各モデルの概要は下記の通りです。
■絶縁劣化・特性評価システム SIR 13
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コストパフォーマンスにすぐれた1台3役の3 Way Use。 |
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これ1台で絶縁劣化評価、絶縁抵抗測定、絶縁特性評価が可能。 |
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無洗浄化、結露対策、Pbフリーはんだなどのイオンマイグレーション評価、高密度実装用インタポーザ、ビルドアップ基板などの絶縁信頼性評価に最適です。 |
■絶縁特性評価システム SIR-X
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多点測定、多目的、高精度な絶縁特性評価システム。 |
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槽内連続測定により、スピーディな評価業務を実現します。 |
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各種電気・電子材料の個別絶縁特性を精度高く測定できます。 |
■微小抵抗測定システム MLR 22
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交流測定に加え、DC印加による微小抵抗の槽内連続測定が可能な2 Way Use。 |
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カーエレクトロニクス部品の槽内での微小抵抗連続測定が可能。 |
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鉛フリーはんだの接合信頼性や実装品の導通信頼性評価に最適です。 |
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購入検討のためのプレテストを承っております。ご興味のある方は、お問い合わせフォームをご利用ください。
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