2008年
035　9月29日
＜新サービス＞　みずなみ試験所で『HALT試験』の受託サービス、スタート。
034　7月9日
＜ご案内＞　『ETAC実装・信頼性フォーラム2008』報告レポート公開のご案内。
033　6月4日
＜ご案内＞　『第38回　JPCA Show 2008』出展のご案内
032　4月10日
＜ご案内＞ 　『ETAC実装・信頼性フォーラム2008』開催のご案内
2007年
031　12月20日
＜ご案内＞　『第37回　インターネプコン・ジャパン2008』出展のご案内
030　11月21日
＜ご案内＞　『井原 惇行（当社顧問）の論文集』をさし上げます。
029　11月12日
＜ご案内＞　『セミコン・ジャパン2007』出展のご案内
028　9月12日
＜ご案内＞　当社顧問、井原 惇行が『日経エレクトロニクス』に寄稿。全3回の連載です。
027　9月3日
＜ご案内＞　『みずなみ試験所』、VCCI／FCC試験所として登録完了。
026　8月9日
＜ご案内＞　日経マイクロデバイス主催　『第4回 信頼性フォーラム』出展のご案内
025　7月9日
＜新設備＞　『信頼性試験・分析 受託サービス』の設備を拡充しました。
024　5月17日
＜ご案内＞　『第37回　JPCA Show 2007』出展のご案内
023　1月16日
＜新製品＞　NEW『WINTECH（ウインテク）シリーズ』販売開始。
2006年
022　12月7日
＜新設備＞ 「可視化」をテーマに受託設備の拡充を行いました。
021　11月1日
ホームページのデザイン及び機能を刷新しました。
020　9月1日
＜新サービス＞　みずなみ試験所で『3m法 EMC試験』の受託サービス、スタート。
019　6月2日
＜新施設＞　第4試験所『みずなみ試験所』開設。
018　4月17日
当社の温度校正室が『JCSS登録事業者』に登録されました。
2005年
017　8月12日
＜新サービス＞　『信頼性クリニック』の新機能、『バーチャル画像配信サービス』が稼働開始。
016　6月30日
＜新製品＞　槽内連続測定システム『SIR 13』及び『MLR 22』…製品構成変更のお知らせ
015　4月25日
＜新施設＞　岐阜県瑞浪市に6,400m²の第4試験所用地を獲得。
014　2月10日
＜新製品＞　槽内連続測定システムの『ニューモデル×3種』、販売開始。
013　2月01日
＜新サービス＞　半導体・電子部品・実装品などの『分析・解析サービス（信頼性クリニック）』開設。
2004年
012　12月1日
＜新サービス＞　名古屋試験所で『EMC試験』の受託サービス、スタート。
011　5月10日
＜新製品＞　『HIFLEX αシリーズ』の発売、開始。
010　3月22日
ホームページのコンテンツおよびデザインを刷新。
009　3月01日
＜新施設＞　名古屋試験所　中区錦1丁目にオープン。
2003年
008　＜新製品＞
電界シールド低温恒温恒湿器『HIFLEX SHIELD』発表。
007　＜新製品＞
コネクタ・ソケット挿抜試験システム『MCR-30』発表。
005　＜新設備＞
ソーラモジュール用大型温度サイクル試験器、導入。
004　＜新設備＞
接続信頼性加速促進試験システム、導入。
003　＜新設備＞
ホットオイル試験機　導入。
002　＜拠点展開＞
中国の主要拠点にサービスエンジニア　配置。
001　＜拠点展開＞
中国上海SOHO事務所　開設。