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◆解析結果報告
・故障部位観察写真(X線、3D像、解析写真)
・故障原因究明データ(元素分析データ、解析写真 etc)
・解析結果報告書(故障モード・故障メカニズム、再発防止策・未然防止策のご提案、所見)
◆主な分析・解析機器
高分解能走査電子顕微鏡(EBSP)
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結晶方位解析システム
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マイクロフォーカスX線CTシステム検査装置
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超音波探傷映像装置(SAT)
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集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
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・走査型電子顕微鏡(SEM)
・透過型電子顕微鏡(TEM)
・ガスクロマトグラフィ(GC)
・液クロマトグラフィ
・ゲルパーミッションクロマトグラフィ(GPC)
・核磁気共鳴分析装置(NMR) 他
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●対応試験所
・IECQ独立試験所 草加試験センター
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