12）

『配線短絡痕の解析手法』　PDFファイル（258kb)

※第38回 R&M symposium

11）

『すずウィスカの種類と解析事例』　PDFファイル（3.6MB)

※第38回 R&M symposium

10）

『アルミ電解コンデンサの信頼性試験方法の一考察』　PDFファイル（903kb)

※2008年 通信学会

9）

井原 惇行（当社顧問）　連載論文＜3＞

電気製品の事故：原因と対策　『電気製品の発火はどう防ぐか。安全設計の基礎を知る。』

※日経エレクトロニクス　2007・10-8号

8）

井原 惇行（当社顧問）　連載論文＜2＞

電気製品の事故：原因と対策　『電気製品はどこから発火したか』

※日経エレクトロニクス　2007・8-27号

7）

井原 惇行（当社顧問）　連載論文＜1＞

電気製品の事故：原因と対策　『電気製品はなぜ発火するか』

※日経エレクトロニクス　2007・7-30号

6）

井原 惇行（当社顧問）　特別取材記事　PDFファイル（176kb）

『信頼性向上を支援する「クリニック」。問題発生メカニズムの解析に自ら挑戦。』

※日経マイクロデバイス　セミコン・ジャパン2007　NAVIGATOR

5）

井原 惇行（当社顧問）　講演レポート　PDFファイル（264kb)

『先端機器を駆使して故障原因を解明。設計段階における信頼性向上に貢献。』

※日経マイクロデバイス　2007・10-30号（第4回　信頼性フォーラム特集）

4）

『熱衝撃試験におけるはんだ接続信頼性の一考察』

3）

『新しい接合信頼性評価の一考察〜微小抵抗自動測定による〜』

2）

『結露環境下におけるイオンマイグレーションの一考察』

1）

『イオンマイグレーションの簡易測定法』